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Quality Management System
Reliability Experiment
01
高温直流反向偏压测试(High Temperature Reverse Bias Test)
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
02
间歇寿命试验测试(Intermittent Operational Life)
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
03
工作寿命试验测试(Continuous Operation Test)
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
04
抗静电能力试验(ESD Test)
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
05
浪涌电流测试(Peak Forward Surge Current Test)
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
06
高温贮存试验(High Temperature Storage Test)
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
07
低温贮存试验(Low Temperature Storage Test)
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
08
恒温恒湿存储试验(Constant Temperature/Humidity Storage Test)
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
09
温度循环测试(Temperature Cycling Test)
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
10
耐焊接热试验/可焊性试验(Solder Heat Resistance Test/ Solderability Test )
实验时机(计划) 试验周期(H) 取样数量(PCS)
新品研发 1000 77*3(依据AEC-Q101)
年度试验 1000 77
新物料确认 168 77*3(依据AEC-Q101)
月度可靠性监控 168 22
  • 实验类别:环境(温度)电应力复合验证
  • 实验目的:验证产品在高温状态下芯片的反向工作能力
  • 实验参考标准: GB/T 4023、JESD22-A108
  • 实验条件: VR(VZ)=80%*VRMAX,TA=TJ±5℃
  • 实验设备:高温反偏试验系统
"Intelligent manufacturing" quality: As one of the core elements of competitiveness, quality should cover the entire product life-cycle from the production and development of products, delivery to subsequent related services.